測(cè)厚儀

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀

產(chǎn) 品 說(shuō) 明

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀：
性能高、操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、結(jié)果可靠

38DL PLUS這款手持式測(cè)厚儀可有效地適用于超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與大多雙晶和單晶探頭有效兼容。38DL PLUS測(cè)厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測(cè)量，以及使用單晶探頭對(duì)薄壁或多層材料進(jìn)行的準(zhǔn)確的壁厚測(cè)量。
38DL PLUS的標(biāo)準(zhǔn)配置帶有很多既強(qiáng)大又易于使用的測(cè)量功能，以及一些專用于某些特殊應(yīng)用的軟件選項(xiàng)。其密封機(jī)殼的設(shè)計(jì)符合IP67評(píng)級(jí)要求，可以抵御潮濕或多沙塵的嚴(yán)酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測(cè)厚儀顯示屏無(wú)論在明亮的陽(yáng)光下還是在黑暗中都能具有較佳的可視性。測(cè)厚儀的鍵區(qū)既簡(jiǎn)潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問(wèn)功能。

主要特性

■可與雙晶和單晶探頭兼容。
■寬泛的厚度測(cè)量范圍0.08毫米~635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
■使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。
■穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。
■內(nèi)部氧化皮/沉積物軟件選項(xiàng)。
■對(duì)于探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
■使用頻率范圍為2.25MHz~30MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。
■多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
■高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、像膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
■厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。
■差分模式和縮減率模式。
■時(shí)基B掃描模式奮每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
■帶有數(shù)字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
■用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
■設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

抵御惡劣環(huán)境的能力
.袖珍型，僅重0.814公斤。
.堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
.寬泛的工作溫度范圍。
.帶有支架的橡膠保護(hù)套。
.彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有較佳的清晰度。

簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念
.可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。
.可直接訪問(wèn)功能的簡(jiǎn)使易行的操作界面。
.內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
.USB和RS-232通訊端口。
.可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
.可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
.默認(rèn)或自定義雙品探頭設(shè)置。
.默認(rèn)或自定義單品探頭設(shè)置。
.密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測(cè)量

.用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
.10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
.校準(zhǔn)過(guò)程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
.用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
.校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
.用于測(cè)量帶有漆層或涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。
.高溫測(cè)量:溫度可高達(dá)500℃。
.鍋爐管件和內(nèi)部氧化皮測(cè)量(可選項(xiàng))，使用M2017或M2091單晶探頭。
.EMAT探頭(E110-SB)，用于對(duì)外部附有氧化皮/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量。

38DL PLUS測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用時(shí)測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的雙晶探頭。

穿透涂層技術(shù)
使用單個(gè)底面問(wèn)波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補(bǔ)償
材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和后的測(cè)量的準(zhǔn)確性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過(guò)溫度校正的厚度值。

氧化皮/沉積物測(cè)量（可選項(xiàng)）
測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化皮/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化皮的厚度。了解氧化皮/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量

用戶使用單晶探頭可以準(zhǔn)確測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單品探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的準(zhǔn)確的厚度測(cè)量。
.對(duì)于探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
.在使用頻率范圍為2.25 MHz到30MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測(cè)量值。
.高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
.多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
.測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
.帶有默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置的自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。

高穿透軟件選項(xiàng)
用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭(低到0.5MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。
多層軟件選項(xiàng)
這個(gè)軟件選項(xiàng)計(jì)算并同時(shí)顯示多達(dá)4個(gè)不同層的厚度測(cè)量值。這個(gè)功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對(duì)塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測(cè)量。

數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

38DL PLUS測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)宇式數(shù)據(jù)記求器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
.內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
.32位字符的文件名稱。
.20位字符的ID#（TML#）編碼。
.9個(gè)文件格式:
增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D棚格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。
.每個(gè)ID# (TML) 編碼可較多存儲(chǔ)4個(gè)注釋。
.注釋可存儲(chǔ)到一個(gè)ID#編碼上或存儲(chǔ)到一系列ID#編碼上。
.內(nèi)置和外置MicroSD存了存儲(chǔ)卡。
.可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡之問(wèn)拷貝文件。
.標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。
.單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
.機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告。
.機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
.GageView接口程序通過(guò)USB或RS-232端口與38DL PLUS測(cè)厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲(chǔ)卡上寫(xiě)入信息。
.可將內(nèi)部文件以與Exce}兼容的CSV(以逗號(hào)分隔值)格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡。

GAGEVIEW
.基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來(lái)自38DL PLUS測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)。
.創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)。
.編輯所存數(shù)據(jù)。
.顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值.
.從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié)，或上傳厚度測(cè)覺(jué)總結(jié)至測(cè)厚儀。
.將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
.收集捕獲的屏幕。
.打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告。
.升級(jí)操作軟件。
.下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
.B掃描回顧。

在PC機(jī)上可以看到以顏色編碼的柵格圖像清晰表明超出容差的厚度的情況。

可以方便地生成并打印包含測(cè)量值、ID編碼及其他參數(shù)的測(cè)量報(bào)告。

V聲程創(chuàng)建功能
用戶使用這項(xiàng)正等待 通過(guò)的新功能可以為大多雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。用戶只需校準(zhǔn)并輸入己知厚度值(較小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn);較大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn))，儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

自動(dòng)探頭識(shí)別
標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭(見(jiàn)下表)都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

帶有自動(dòng)探頭識(shí)別功能的雙晶探頭，用于腐蝕測(cè)厚應(yīng)用

單晶探頭，用于腐蝕測(cè)厚應(yīng)用

*取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。整個(gè)范圍可能需要增益調(diào)整。
**Z高溫度下，僅使用間歇接觸。
+可提供不銹鋼線纜；欲查詢?cè)斍?，?qǐng)與olympus NDT聯(lián)系。
++使用穿透涂層技術(shù)的探頭。